Προϋπάρχουσα Γνώση/ Τεχνογνωσία
- Υπολογισμοί και μοντελοποίηση σε πολλαπλές κλίμακες ΦΒ υλικών και διατάξεων. Οι μέθοδοι αφορούν ηλεκτρονιακή δομή (DFT), μοριακή δυναμική, Monte Carlo, αλληλεπίδραση φωτός ύλης σε διατάξεις (FDTD).
- Πειραματική μελέτη και κατανόηση των σχέσεων που συνδέουν τη μικροσκοπική δομή (με SAXS/WAXS) και δυναμική (με τις τεχνικές της διηλεκτρικής φασματοσκοπίας και ρεολογίας) με τις μακροσκοπικές ιδιότητες του συστήματος.
- Μοριακός, μορφολογικός και οπτοηλεκτρονικός χαρακτηρισμός οργανικών υλικών με μεθόδους NMR, TEM SEM AFM και κυκλικής βολταμετρίας, αντίστοιχα.
Όργανα και Εξοπλισμός που θα συνεισφέρει στο Έργο
Στο Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων πραγματοποιείται έρευνα (βασική και εφαρμοσμένη) καθώς και πειραματική ανάπτυξη σε όλους τους τομείς και τα γνωστικά αντικείμενα που καλύπτονται από τα Τμήματα και τις Σχολές του Ιδρύματος, με ιδιαίτερη έμφαση στις Θετικές και Τεχνολογικές Επιστήμες. Το Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων συμμετέχει στην κοινοπραξία με 3 εργαστήρια: Το Εργαστήριο Υπολογιστικής Επιστήμης Υλικών του Τμήματος Μηχανικών Επιστήμης Υλικών που εξειδικεύεται στην θεωρητική μελέτη οργανικών και πολυμερικών υλικών για εφαρμογές σε οργανικά ηλεκτρονικά, συγκεκριμένα, ηλεκτρονιακή δομή, μοριακή δυναμική και ανάπτυξη μικροδομής, μεταφορά φορτίου. Το Εργαστήριο Πολυμερών του ιδίου Τμήματος που εξειδικεύεται στην σύνθεση πολυμερικών υλικών και στον χαρακτηρισμό της δομής με μεθόδους ηλεκτρονικής μικροσκοπίας. Το Εργαστήριο Επιστήμης Υλικών του Τμήματος Φυσικής που εξειδικεύεται στον χαρακτηρισμό της δομής πολυμερικών υλικών με μεθόδους ακτίνων Χ και των ηλεκτρικών τους ιδιοτήτων με διηλεκτρική φασματοσκοπία. Τα τρία εργαστήρια έχουν πολύχρονη εμπειρία σε Εθνικά και Ευρωπαϊκά ερευνητικά προγράμματα στην θεματολογία της μοντελοποίησης, σύνθεσης, κατασκευής και χαρακτηρισμού ΦΒ υλικών και διατάξεων.
1.Υποδομές
- Υπολογιστική συστοιχία 200 κόμβων (Intel i5 και i7) αποκλειστικής χρήσης.
- Σκέδαση ακτίνων Χ σε μικρές και ευρείες γωνίες (Small and Wide Angle X ray Scattering SAXS/WAXS/GISAXS).
- Διηλεκτρική φασματοσκοπία συναρτήσει της θερμοκρασίας και της πίεσης (1 mHz έως 3 MHz), 160 έως 400 οC), (1 atm έως 3000 atm)
- Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διέλευσης & Σάρωσης (TEM) με υπερ–κρυομικροτόμους για την λήψη λεπτών υμενίων (από 250C έως –1500C), μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης (AFM)
- Κυκλική βολταμετρία
- Διαφορική θερμιδομετρία σάρωσης (από -100 έως 300C)
- Ρεολογία συναρτήσει της θερμοκρασίας (από -60 έως 300C)
- • NMR φασματοσκοπία και χρωματογραφία αποκλεισμού μεγεθών