Πανεπιστήμιο Πελοποννήσου

Προϋπάρχουσα Γνώση/ Τεχνογνωσία

  • Ανάπτυξη οξειδίων μετάλλων μετάπτωσης σε μεσοπορώδη δομή με ελεγχόμενο μέγεθος σωματιδίων και οπτικών ιδιοτήτων για την αποδοτική μεταφορά ηλεκτρονίων σε διατάξεις Φ/Β τρίτης γενιάς.
  • Ανάπτυξη και χαρακτηρισμός υβριδικών υλικών από περοβσκίτες και εκτυπωμένες Φ/Β διατάξεις με αυτά σε αμιγώς περιβαλλοντικές συνθήκες. Εφαρμογή εναλλακτικών ηλεκτροδίων από δομές άνθρακα σε χαμηλές θερμοκρασίες.
  • Ανάπτυξη και χαρακτηρισμός εκτυπωμένων Φ/Β διατάξεων από περοβσκίτες σε εύκαμπτα υποστρώματα.
  • Ανάπτυξη και βελτιστοποίηση διαδικασιών εκτύπωσης ευρείας κλίμακας Φ/Β περοβσκίτη με τεχνική εκτύπωσης μελάνης βιομηχανικού τύπου (large scale inkjet printing).
  • Αξιολόγηση και ανάλυση της απόδοσης Φ/Β τρίτης γενιάς σε προσομοιωμένες συνθήκες περιβάλλοντος (πρωτόκολλα ISOS).

Όργανα και Εξοπλισμός που θα συνεισφέρει στο Έργο

1.Eργαστήριο Προηγμένων Υλικών και Νανοτεχνολογίας (Nanotechnology and Advanced Materials Laboratory NAML)

Aνήκει στο Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Η/Υ του Πανεπιστημίου Πελοποννήσου (www.naml.ece.uop.gr). Ιδρύθηκε το 2015 (ΦΕΚ 476/27 3 2015) και εξυπηρετεί το πεδίο των προηγμένων υλικών με εφαρμογές στη φωτοβολταϊκή τεχνολογία, νανοηλεκτρονική, φωτονική και ηλεκτροχημικών στοιχείων. Οι υψηλού επιπέδου υποδομές του εργαστηρίου και οι διεθνείς συνεργασίες του, επιτρέπουν στο εργαστήριο «Νανοτεχνολογίας και προηγμένων υλικών» να προωθεί έρευνα υψηλού επιπέδου.

Ενδεικτικά το εργαστήριο NPSECEP διαθέτει τον παρακάτω εξοπλισμό:

  • Ψηφιακός Εκτυπωτής (inkjet printer) Dimatix DMP 2850
  • Screen printer ALRAUN Technik eff. area 50×50 cm^2,
  • Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) meter (Jasco 4100),
  • Συσκευές φασματοσκοπίας απορρόφησης ορατού υπεριώδους UV Vis και υπερύθρου IR. (Hitachi U2900 και Jasco V 770 spectrophotometer equipped with a 60 mm integrating sphere, embedding a PbS Detector (ISN 923)),
  • portable spectrophotometer (Avantes AvaSpec ULS2048x64),
  • Συσκευή φασματοσκοπίας εκπομπής φωταύγειας (Hitachi F 2500),
  • Πλήρες σύστημα καταγραφής χαρακτηριστικών πυκνότητας ρεύματος − τάσης (J−V) των φωτοβολταϊκών κυψελίδων στο φως και στο σκοτάδι και με δυνατότητα μέτρησης της απόσβεσης φωτοτάσεως (photovoltage decay). source meter (KEITHLEY 2601)
  • Εξομοιωτή Ηλιακής ακτινοβολίας με συνθήκες προσπίπτουσας ακτινοβολίας ΑΜ1.5 (Solar Light XPS 16S 300 and Newport LED equipped class AAB), πυρανόμετρα καταγραφής της εντάσεώς της και αισθητήρες μέτρησης συγκεκριμένων εντάσεων σε επιλεγμένα μήκη κύματος.
  • Για τον ηλεκτροχημικό χαρακτηρισμό των ηλιακών κυψελίδων, συσκευή για μεταβατικές ηλεκτροχημικές τεχνικές απόκρισης συχνότητας, όπως φασματοσκοπία ηλεκτροχημικής εμπέδησης (EIS) και κυκλική βολταμετρία (CV). potentiostat/galvanostat electrochemical instrument (Model PGSTAT 128 N),
  • Θάλαμος ταχείας γήρανσης δειγμάτων σε συνθήκες ηλιακής ακτινοβολίας εντάσεως 100 W/m^2 ελεγχόεμης υγρασίας έως 80% και θερμοκρασίας έως 800C ATLAS Suntest +
  • Συσκευές (2) μέτρησης της φασματικής απόκρισης και κβαντικής απόδοσης ενός φωτοβολταϊκού στοιχείου (IPCE) 1. (Thetametrisis PM–QE–EM), και 2. Oriel IQE 200
  • Συσκευή ποροσιμετρίας για τον προσδιορισμό του πορώδους και της ενεργού επιφάνειας των σωματιδίων. Brunauer––Emmett––Teller (BET) Porosimetry (Micromeritics Tristar 3000),
  • Συσκευή μέτρησης υδροφιλικότητας δειγμάτων από τη γωνία επαφής (contact angle measurement) KSV CAM 100,
  • 14. Συσκευή εξάχνωσης για τη δημιουργία ηλεκτροδίων (homemade apparatus based on turbo vacuums P<10–6 bar),
  • Φούρνοι κεραμικού για θέρμανση σε υψηλή θερμοκρασία (3 σε αριθμό)
  • Συσκευή εναπόθεσης με περιστροφή (spin–coating) 1. Spin 150, 2. Ossila. Συσκευή περιστροφικής εξάτμισης και Συσκευή απόσταξης νερού.
  • Συσκευή θερμοβαρυμετρικής ανάλυσης (TGA) και διαφορικής θερμιδομετρίας σάρωσης (DSC). (Perkin Elmer STA6000),
  • Συσκευή ανάλυσης συνολικού οργανικού άνθρακα (TOC). Shimadzu TOC–VCSH
  • Συσκευή για υγρή χρωματογραφία υψηλής απόδοσης (HPLC). Shimadzu Prominence with diode array
  • Ultrasonicator (probe) (Sonopuls mini 20, Bandelin),
  • Πλήρως Εξοπλισμένο εργαστηριακό χώρο με απαγωγούς αερίων κα συνήθεις εργαστηριακούς πάγκους

Ακόμη στη Σχολή που Μηχανικών υπάρχει Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE–SEM) FEI Inspect F50 για λήψη εικόνων μικροσκοπίας. Επιπλέον τα μέλη της Ερευνητικής Ομάδας έχουν πρόσβαση στον εξής εργαστηριακό εξοπλισμό:

  • Συσκευή περίθλασης ακτίνων Χ (XRD).Συσκευή φασματοσκοπίας διασποράς ακτίνων X (EDX).
Μετάβαση στο περιεχόμενο